KI-Beratung Beta

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**Gültig bis 09.11.2026 auf tolino shine color (4016621130473), tolino vision color (4016621130183) und tolino vision color weiß (4016621131456) online auf thaalia.live, in der Thalia App und in allen Thalia Buchhandlungen in Österreich. In den Buchhandlungen nur gültig auf lagernde Ware. Pro Einkauf einmal einlösbar. Nur gültig gegen Vorlage oder im Onlineshop hinterlegter Bonuscard. Infos zur Einlösung in der Buchhandlung sind auf der Bonuscard-Vorteilspreisseite zu finden. Click & Collect nur bei Onlinevorabzahlung möglich. Keine Einlösung bei Scan & Go-Bezahlung. Keine Barauszahlung. Nicht kombinierbar mit anderen Aktionen und Gutscheinen. Nicht gültig für Geschenkkarten, Versandkosten und Services. Nur solange der Vorrat reicht.

  • Produktbild: Finfet/Gaa Modeling for IC Simulation and Design
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Finfet/Gaa Modeling for IC Simulation and Design Using the Bsim-Cmg Standard

116,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.08.2024

Verlag

Elsevier Science & Technology

Seitenzahl

324

Maße (L/B/H)

23,2/18,7/1,9 cm

Gewicht

682 g

Auflage

2nd edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-323-95729-8

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.08.2024

Verlag

Elsevier Science & Technology

Seitenzahl

324

Maße (L/B/H)

23,2/18,7/1,9 cm

Gewicht

682 g

Auflage

2nd edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-323-95729-8

EU-Ansprechpartner

Elsevier B.V.
Radarweg 29
1043 NX Amsterdam
NL
productsafety@elsevier.com

Herstelleradresse

Elsevier Science & Technology
London Wall 125
EC2Y 5AS London
GB
tradeorders@elsevier.com

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  • Produktbild: Finfet/Gaa Modeling for IC Simulation and Design
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  • 1. 3D thin-body FinFET and GAA: From device to compact model
    2. Compact models for analog and RF applications
    3. Core model for FinFETs
    4. Gate-all-around FETs
    5. Channel current and real device effects
    6. Leakage currents
    7. Charge, capacitance, and nonquasi-static effects
    8. Parasitic resistances and capacitances
    9. Noise
    10. Junction diode I-V and C-V models
    11. Benchmark tests for compact models
    12. BSIM-CMG model parameter extraction
    13. Temperature dependence
    14. Cryogenic temperature modeling