Chauhan, Y: GaN Transistor Modeling for RF and Power Electro Using The ASM-HEMT Model
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Sprache:Englisch
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
22.05.2024
Abbildungen
200 illustrations (150 in full color)
Verlag
Elsevier Science & TechnologySeitenzahl
260
Maße (L/B/H)
22,9/15,2/1,4 cm
Gewicht
354 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-323-99871-0
GaN Transistor Modeling for RF and Power Electronics: Using The ASM-GaN-HEMT Model covers all aspects of characterization and modeling of GaN transistors for both RF and Power electronics applications. Chapters cover an in-depth analysis of the industry standard compact model ASM-HEMT for GaN transistors. The book details the core surface-potential calculations and a variety of real device effects, including trapping, self-heating, field plate effects, and more to replicate realistic device behavior. The authors also include chapters on step-by-step parameter extraction procedures for the ASM-HEMT model and benchmark test results.
GaN is the fastest emerging technology for RF circuits as well as power electronics. This technology is going to grow at an exponential rate over the next decade. This book is envisioned to serve as an excellent reference for the emerging GaN technology, especially for circuit designers, materials science specialists, device engineers and academic researchers and students.
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