Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
26.03.2003
Abbildungen
schwarz-weiss Illustrationen, Tabellen, schwarz-weiss
Herausgeber
Wai-Kai ChenVerlag
Taylor and FrancisSeitenzahl
384
Maße (L/B/H)
26/18,3/2,5 cm
Gewicht
915 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-8493-1737-8
Timing, memory, power dissipation, testing, and testability are all crucial elements of VLSI circuit design. In this volume culled from the popular VLSI Handbook, experts from around the world provide in-depth discussions on these and related topics. Stacked gate, embedded, and flash memory all receive detailed treatment, including their power consumption and recent developments in low-power memories. Reflecting the rapid development and importance of systems-on-a-chip (SOCs), an entire chapter is devoted to application-specific integrated circuits (ASICs). Design-related topics include microprocessor architectures, layout methods, design verification, testability concepts, and various CAD tools.
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